芯片制造的**步是制备晶圆(Wafer)。晶圆通常由高纯度单晶硅制成,其生产过程如下:
硅提纯:从石英砂(主要成分SiO₂)中提取硅,并通过化学方法提纯至99.9999999%(电子级硅)。
单晶硅生长:采用直拉法(CZ法)或区熔法(FZ法),将多晶硅熔融后拉制成圆柱形单晶硅锭。
晶圆切割与抛光:硅锭被切割成厚度约0.5~1mm的薄片,再经过精密抛光,确保表面超平坦,以供后续光刻使用。
目前主流晶圆尺寸为300mm(12英寸),而更先进的450mm晶圆仍在研发中,以提高生产效率和降低成本。
光刻是芯片制造中最关键、最复杂的步骤之一,它决定了芯片的晶体管密度和性能。其核心流程包括:
涂覆光刻胶:在晶圆表面均匀涂覆一层光敏材料(光刻胶)。
曝光:使用光刻机(如EUV极紫外光刻机),将设计好的电路图案投射到光刻胶上,使其部分区域发生化学反应。
显影:通过化学溶剂去除曝光(或未曝光)部分,形成纳米级电路模板。
目前***的EUV光刻技术(13.5nm波长)可实现5nm及以下制程,而传统DUV(深紫外光刻)则用于成熟制程(如28nm以上)。
光刻完成后,需要通过刻蚀工艺将图案转移到硅片上。刻蚀主要分为两种:
干法刻蚀(等离子刻蚀):利用高能等离子体轰击晶圆表面,精确去除未被光刻胶保护的硅材料。
湿法刻蚀:使用化学液体(如氢氟酸)溶解特定材料,适用于某些特殊结构。
刻蚀的精度直接影响芯片性能,因此需要严格控制深度和侧壁形貌。
为了调节硅的导电性,需在特定区域注入杂质原子(如磷、硼),形成P型或N型半导体。这一过程通过离子注入机完成:
高能离子束轰击晶圆表面,改变局部电学特性。
随后进行高温退火,修复晶格损伤并激活掺杂原子。
芯片需要多层金属导线连接晶体管,这一过程涉及:
化学气相沉积(CVD)或物理气相沉积(PVD):在晶圆表面生长绝缘层(如SiO₂)或金属层(如铜)。
电镀与化学机械抛光(CMP):铜导线通过电镀填充沟槽,再经CMP磨平表面,确保多层电路精准对齐。
现代先进芯片(如5nm制程)可能包含超过100亿个晶体管,并采用10层以上的金属互连。
完成所有加工后,晶圆需经过严格测试:
晶圆测试(Wafer Test):用探针台检测每个芯片的电学性能,标记不良品。
切割(Dicing):用金刚石刀或激光将晶圆切割成单个芯片(Die)。
封装(Packaging):将芯片封装在保护壳内,并连接外部引脚,形成最终可用的集成电路(IC)。
随着摩尔定律逼近物理极限,芯片制造面临巨大挑战:
EUV光刻成本高昂:一台ASML EUV光刻机售价超1.5亿美元。
量子隧穿效应:3nm以下制程可能发生电子泄漏,需新材料(如GAA晶体管、碳纳米管)。
先进封装技术:Chiplet(小芯片)和3D堆叠成为提升性能的新方向。